在集成电路验证分析领域，苏试宜特（上海）拥有高功率老化、SMT 验证产线、超高分辨率 3D X-Ray 显微镜、双束聚焦离子束、扫描式电子显微镜、穿透式电子显微镜、纳米探针、原子力显微镜等国内/国际先进的集成电路验证分析试验设备，可提供 AEC-Q 车规芯片的可靠性测试服务、 5nm 及以下制程芯片的线路修改服务、先进封装芯片(CoWoS,2D/3D package, FlipChip,Wafer level package ＆ TSV 等) 的失效分析服务、高阶工艺芯片的可靠性设计测试技术等服务，服务质量获得国内多家龙头集成电路设计公司的肯定。
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