芯片良率领军，硅光开启二次成长#广立微：国内芯片良率提升与电性测试技术领军，构建“测试芯片设计EDA+晶圆级WAT测试设备+半导体大数据分析系统”的软硬件一体化产品矩阵，为芯片全生命周期提供良率提升一站式服务，客户覆盖国内一线晶圆厂。#软件及服务：围绕良率提升+电性测试，通过参与工艺开发深度绑定下游客户。良率提升EDA+相关工程服务为核心，深度参与国产工艺开发。基于良率业务基础，公司拓展数据分析中台产品；同时，基于对制造-设计协同思路拓展DFM、DFT等EDA工具品类。#电芯片WAT设备：晶圆检测通胀+国产化提速。WAT测试设备是在晶圆制造后对晶圆进行电学指标检测的核心设备。国内唯一。
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